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inTEST 芯片高低溫沖擊測試

inTEST 冷熱沖擊機可與愛德萬 advantest, 泰瑞達 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等測試機聯用, 進行芯片的高低溫沖擊測試. 實時監測芯片的真實溫度，可隨時調整沖擊氣流, 對測試機平臺 load board 上的芯片進行快速溫度循環沖擊, 傳統高低溫箱無法針對此類測試.

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    芯片多用于門禁卡及物聯網中, 由于受到工作空間狹小, 芯片接觸面積小, 空氣流通環境差, 散熱的條件不好等影響,芯片表面可能會經歷快速升溫, 并且需要在高溫的環境中長時間工作; 同時實驗室也會搜集一些芯片的高低溫運行的數據做留存資料.所以測試芯片在快速變溫過程中的穩定性十分必要.


    芯片高低溫測試客戶案例:某半導體公司,芯片測試溫度要求 ﹣40℃～105℃, 選用 InTEST ATS-545 與泰瑞達測試機聯用, 對芯片進行快速冷熱沖擊, 設置 12組不同形式的循環溫度設定,快速得到完整準確的數據.

    inTEST ThermoStream ATS-545 技術參數:

    型號

    溫度范圍 °C

    * 變溫速率

    輸出氣流量

    溫度

    精度

    溫度顯示

    分辨率

    溫度

    傳感器

    ATS-545

    -75 至 + 225(50 HZ)

    -80 至 + 225(60 HZ)

    不需要LN2或LCO2冷卻

    -55至 +125°C

    約 10 S 或更少

    +125至 -55°C

    約 10 S 或更少

    4 至 18 scfm

    1.9至 8.5 l/s

    ±1℃

    通過美國NIST 校準

    ±0.1℃

    T或K型

    熱電偶

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