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inTEST 熱流儀集成電路 IC 芯片高低溫沖擊測試

隨著國家對半導體行業愈加重視, 國內各高校通過積極籌備半導體聯合實驗室等舉措來推動集成電路的產業研究和人才教育的發展, 美國 inTEST ThermoStream熱流儀提供清潔干燥的冷熱循環沖擊氣流, 可達到快速精準的測試溫度, 適合模擬各種溫度測試和調節的應用, 獲得高校普遍認可, 已廣泛參與集成電路研發重點項目的研究.

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    inTEST 熱流儀應用于集成電路科研項目案例: 國內某高校選用 inTEST 高低溫測試機 ATS-545 用于研發高性能微處理器, 網絡通信芯片, 功率器件, 藍牙芯片等科研項目. 如工業級 ICU 芯片要求測試溫度 -40℃ 至 110℃, 溫變速率 -50℃ 至 125℃≤10s, 在帶電情況下, 分別設置高溫, 常溫, 低溫進行溫度循環.

    ATS-545-M

    溫度范圍 °C: -75 至 + 225(50 HZ)

    變溫速率: -55至 +125°C

                  約 10 S 或更少

                 +125至 -55°C

                 約 10 S 或更少

    輸出氣流量: 4 至 18 scfm

    溫度精度: ±1℃ 通過美國NIST 校準

    溫度顯示分辨率: ±0.1℃

    溫度傳感器: T或K型熱電偶

    防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻

    美國 inTEST 熱流儀通過每秒快速升溫或降溫 18°C, 對 PCB 電路板中的某一單個 IC (模塊) 或整塊集成電路提供準確且快速的環境溫度. 與傳統高低溫試驗箱不同的是 inTEST 高低溫測試機可針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個 IC (模塊)可單獨進行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件.


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