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inTEST 热流仪微处理器芯片高低温测试

在电子, 航空航天, 通讯实验等行业中, 对于使用的芯片有着严格的要求, 使用的芯片在严苛环境中能否正常工作, 可靠性如何, 成为重要的关注点, 而传统验证方法由于温度变化, 稳定速度慢和无法提供快速变化的温度环境, 很难满足相应的测试需要, 美国 inTEST 高低温测试机解决了传统验证方法缺陷问题, 提供快速高低温冲击能力.

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    ECO-710 微处理器芯片测试解决方案

    在进行微处理器芯片测试中, 客户要求测试温度 -40 到 125 °C

    ECO-710 测试的温度范围 -80 至 +225°C, 输出气流量 4 至 18 scfm, 温度精度 ±1℃, 该产品解决客户的需求.

    美国 inTEST 高低温测试机 ECO-710 搭配 delta design 测试机共同进行微处理器芯片测试, 有效提高了芯片测试的速度和准确性, 快速进行在电工作的电性能测试, 失效分析, 可靠性评估等.


    微处理器芯片高低温测试方法

    1. 将待测微处理器芯片放置在玻璃罩中

    2. 操作员设置需要测试的温度范围

    3. 启动 ThermoStream ECO-710, 利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理, 然后空气经由外部管路到达加热头进行升温, 气流通过热流罩进入测试腔.

    玻璃罩中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度, 高低温测试机 ECO-710 自带过热温度保护系统, 操作员也可根据实际需要设置高低温限制点.

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