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微区X射线荧光分析仪Atlas,作为一款能量色散型X射线荧光分析仪(EDXRF),Atlas的空间分辨率、操作自动化,束斑尺寸等诸多性能指标表现优异,目前Atlas有两个型号M和X(尺寸更大)。
电路板的X射线面分布图,(Cu, Br, Ti, Ca, Fe, Sn, Ni, Zn)
Atlas-M型号技术参数
样品类型
固、液、颗粒、粉末
测试介质
空气、真空、氦气
激发源
12-50W, 0-50kV, 200 μA-1mA
激发源参数:
靶材
束班尺寸
滤片
多毛细管或准直器
铑(其他可选)
5μm-1000μm连续可调
8片
探测器
分辨率
活区面积
SDD
135-145ev
50-150mm2
样品台
X、Y、Z三轴可动
320X320mm可移动范围
载重10Kg
Mapping*大尺寸
样品移动速度
220X200mm
300mm/s
元素分析范围
Na-U
特点:
1、 束斑尺寸zui小可达5μm;
2、 大样品台行程(320×320×120mm),移动速度可达300mm/s;
3、 多达8片的滤波片选择;
应用领域:
1、 地矿文博;
2、 电子器件;
3、 刑侦医学;
4、 医药检测;
info@labcompanion.cn
18688888286
北京市海淀区北三环西路48号1号楼14至15层B座 东莞市常平镇土塘村红花岭地段长城聚怡大厦一楼东面厂房
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